球面収差補正透過電子顕微鏡(JEM-2200FS)
型番
JEM-2200FS
メーカー
日本電子(株)JEOL
仕様
空間分解能：0.1 nm (収差補正後) 加速電圧：200 kV 電子線分光器：Ω型フィルタ / エネルギー分解能 0.8 eV 電子銃：ZrO/W(100) ショットキー電子銃 CCD Camera：2048x2048 pixel 収差補正装置：CEOS Cs 補正装置(TEMモード用)
設置場所
宇治地区 化学研究所 極低温超高分解能電子顕微鏡室9-1室
導入年度
2023年度
概要
TEM/STEM 両モードでの測定が可能です。試料加熱ホルダ、低温ホルダなど各種の試料ホルダが利用可能な汎用の分析電子顕微鏡です。
設置部局・専攻
宇治地区化学研究所 極低温超高分解能電子顕微鏡室９－１室
利用対象者
京都大学内の方・他大学研究機関・企業（利用結果を公開することが原則）
注意事項等
文部科学省 マテリアル先端リサーチインフラ京都大学 (計測・分析) 共用設備
お問い合わせは、下記のURLに記載されている連絡先よりお願いいたします。
（計測・分析）
https://tem.nanoplat.cpier.kyoto-u.ac.jp/
利用規定（料金規定）
文部科学省 マテリアル先端リサーチインフラ京都大学 (計測・分析) 共用設備 簡易料金表よりご確認をお願いします。
（計測・分析）
https://tem.nanoplat.cpier.kyoto-u.ac.jp/
お問い合わせ先
化学研究所 付属先端ビームナノ科学センター 複合ナノ解析化学
MAIL：arim*eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp
「*」を「@」に変更のうえご送信ください。
