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球面収差補正透過電子顕微鏡(JEM-2200FS)

日本電子(株)JEOL

空間分解能 0.1 nm (収差補正後)
加速電圧 200 kV
電子線分光器 Ω型フィルタ / エネルギー分解能 0.8 eV
電子銃 ZrO/W(100) ショットキー電子銃
CCD Camera 2048x2048 pixel
収差補正装置 CEOS Cs 補正装置(TEMモード用)
特徴 TEM/STEM 両モードでの測定が可能です。試料加熱ホルダ、低温ホルダなど各種の試料ホルダが利用可能な汎用の分析電子顕微鏡です。

設置場所

33 極低温超高分解能電子顕微鏡室９－１室

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ご利用案内

京都大学内の方

時間利用

技術代行

技術補助

利用結果を公開することが原則

その他研究機関の方

時間利用

技術代行

技術補助

利用結果を公開することが原則

企業など

時間利用

技術代行

技術補助

利用結果を公開することが原則

時間利用: 利用者が機器操作を行います。利用時間に応じて利用料金が発生します。
技術代行: 利用者はサンプル等を提出します。測定は技術職員が実施します。
技術補助: 利用者が機器操作を行いますが、補助員が機器利用に付き添います。
（補助員及び利用時間に応じて利用料金が発生します。）

ご利用の申し込み

マテリアル先端リサーチインフラ事業
（計測・分析）
https://tem.nanoplat.cpier.kyoto-u.ac.jp/

お問い合わせ

化学研究所　付属先端ビームナノ科学センター　複合ナノ解析化学

MAIL: arim＊eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp
「＊」を「@」に変更のうえご送信ください。