JPEN

モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡(JEM-ARM200F))

日本電子(株)JEOL
  • 加速電圧 200 kV, 60 kV
  • モノクロメータ
  • ダブルウィーンフィルター
  • 球面収差補正装置
  • CEOS社製
  • エネルギーフィルター
  • Gatan966 QuantumERS
  • EDX装置
  • JED-2300T SDD100GV (JEOL製)
  • 特徴 高エネルギー分解能のEELS測定やEDX による元素マッピングなどが可能です。
設置場所
32 超高分解能分光型電子顕微鏡棟1階
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ご利用案内

京都大学内の方
技術代行
技術補助
機器利用

利用結果を公開することが原則

その他研究機関の方
技術代行
技術補助
機器利用

利用結果を公開することが原則

企業など
技術代行
技術補助
機器利用

利用結果を公開することが原則

技術代行
利用者はサンプル等を提出します。測定は技術職員が実施します。
技術補助
利用者が機器操作を行いますが、補助員が機器利用に付き添います。
(補助員及び利用時間に応じて利用料金が発生します。)
機器利用
利用者が機器操作を行います。測定するサンプル数に応じて利用料金が発生します。
ご利用の申し込み
マテリアル先端リサーチインフラ事業
(計測・分析)
https://tem.nanoplat.cpier.kyoto-u.ac.jp/

お問い合わせ
化学研究所 付属先端ビームナノ科学センター 複合ナノ解析化学
TEL
0774-38-3053
MAIL
arim*eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp

「*」を「@」に変更のうえご送信ください。

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