モノクロメータ搭載低加速原子分解能分析電子顕微鏡(JEM-ARM200F)
型番
JEM-ARM200F
メーカー
日本電子(株)JEOL
仕様
・加速電圧：200kV、60kV
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.1nm
・STEM分解能：0.08nm
・エネルギー分解能：0.03eV
・分析機能：EELS、EDS
・電子銃：ショットキー型
・TEM分解能：0.1nm
・STEM分解能：0.08nm
・エネルギー分解能：0.03eV
・分析機能：EELS、EDS
設置場所
化学研究所 極低温超高分解能電子顕微鏡室9-2室
導入年度
2013年度
概要
照射系と結像系に球面収差補正装置を搭載し、電子銃にはモノクロメータが組み込まれた高エネルギー分解能原子直視型分析電子顕微鏡。分析機能はEELSとEDSを装備。
設置部局・専攻
宇治地区化学研究所 極低温超高分解能電子顕微鏡室９－２室
利用対象者
京都大学内の方・他大学研究機関・企業（利用結果を公開することが原則）
注意事項等
マテリアル先端リサーチインフラ事業
お問い合わせは、下記のURLに記載されている連絡先よりお願いいたします。
（計測・分析）
https://tem.nanoplat.cpier.kyoto-u.ac.jp/
利用規定（料金規定）
マテリアル先端リサーチインフラ事業
（計測・分析）
https://tem.nanoplat.cpier.kyoto-u.ac.jp/
お問い合わせ先
化学研究所 付属先端ビームナノ科学センター 複合ナノ解析化学
TEL0774-38-3053
MAIL：arim*eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp
「*」を「@」に変更のうえご送信ください。