透過電子顕微鏡試料仕上げ加工装置（FIB後処理用イオンミリング装置 ナノミル Model1040）
型番
Model1040
メーカー
米国E.A.Fischione社
仕様
イオン源：中空陽極放電、可変エネルギー：0.5〜6.0ｋV、 イオン源電流：3〜8ｍA、ビーム電流：Max.400μA、試料 ステージ回転1〜360°（1度刻み）、設定⾓度回転：0± 179°、ミリング⾓度：0〜45°
設置場所
エネルギー理工学研究所 北2号館（一部は北1号館DuET実験棟）
導入年度
2013年度
概要
FIB(集束イオンビーム)により作製されたTEM試料に対する、後処理⽤ミリング装置
設置部局・専攻
宇治地区エネルギー理工学研究所
北2号館（一部は北1号館DuET実験棟）
利用対象者
(1) 京都大学(以下「本学」という。)の教職員又は学生
(2) 国、地方公共団体、国立大学法人又は独立行政法人に所属する者
(3) 研究・教育を目的とする法人又は団体に所属する者
(4) 民間企業に所属する者
注意事項等
設備を利用しようとする者(以下「申請者」という。)は、設備を利用しようとする日(複数日に連続してまたがる場合はその最初の日)の1年前から7日前までに、京都大学エネルギー理工学研究所設備利用申込書(様式1)(以下「設備利用申込書」という。)を所長に提出し、許可を受けなければならない。
利用規定（料金規定）
京都大学エネルギー理工学研究所設備の利用に関する要項https://www.iae.kyoto-u.ac.jp/center/images/kikiyoukou.pdf
お問い合わせ先
エネルギー理工学研究所
附属エネルギー複合機構研究センター（担当者：大村）
TEL0774-38-3584
MAIL：muster-office*iae.kyoto-u.ac.jp
「*」を「@」に変更のうえご送信ください。