ショットキー電界放出形走査電子顕微鏡 JSM-6500F
型番
JSM-6500F
メーカー
日本電子㈱
仕様
ショットキー電界放射電子銃（最高加速電圧 30kV）、アウトレンズ形対物レンズ、二次電子検出器（二次電子像分解能 1.5nm（15kV）、5.0nm（1kV））、反射電子検出器、エネルギー分散型 X 線分析装置
設置場所
吉田地区工学部物理系校舎 地下1階 002室
導入年度
2012年度
概要
固体試料表面の組織観察や組成分析を行う電界放出形走査電子顕微鏡です。分解能数 nm 程度の二次電子像観察、B 以降の元素を対象とする検出下限 0.1at.%程度、X線発生領域 1um 程度の EDX 分析が可能です。
設置部局・専攻
工学研究科材料工学専攻
利用対象者
(1) 京都大学（以下「本学」という。）の教職員又は学生のうち、専攻又は工学部物理工学科材料科学コースに所属するもの
(2) 本学の教職員又は学生のうち、専攻又は工学部物理工学科材料科学コース以外に所属するもの
(3) 国、地方公共団体、国立大学法人若しくは大学共同利用機関法人、独立行政法人又は教育・研究を事業目的とする法人若しくは団体に所属する者
(4) 企業等において研究開発に従事する者
(5) その他管理責任者が適当と認める者
注意事項等
事前講習を受講のうえ、利用者自身で測定してください。
利用目的、試料情報（導電性の有無、組成、形状、個数）を下記連絡先にお知らせください。
利用規定（料金規定）
お問い合わせ先
材料工学専攻 教育研究支援室 技術職員 佐々木 宣治
075-753-5426
sasaki.nobuharu.7a*kyoto-u.ac.jp
「*」を「@」に変更のうえご送信ください。