透過電子顕微鏡 JEM-2010
型番
JEM-2010
メーカー
日本電子㈱
仕様
観察モード： TEM のみ（STEM なし）、EDS 分析： 不可、電子銃： LaB6、加速電圧： 200 kV 、分解能 粒子像（点分解能）： 0.23 nm 、 格子像： 0.14 nm 、試料傾斜： Tilt-X ±35° Tilt-Y ±30°
設置場所
吉田地区工学部物理系校舎 地下1階 020室
導入年度
2009年度
概要
一般的な TEM（Conventional TEM）である。CCD カメラはサイドマウントであるため高分解能像の取得には不向き。イオンミリング法による TEM 試料作製のための装置も利用可能である。
設置部局・専攻
工学研究科材料工学専攻
利用対象者
(1) 京都大学（以下「本学」という。）の教職員又は学生のうち、専攻又は工学部物理工学科材料科学コースに所属するもの
(2) 本学の教職員又は学生のうち、専攻又は工学部物理工学科材料科学コース以外に所属するもの
(3) 国、地方公共団体、国立大学法人若しくは大学共同利用機関法人、独立行政法人又は教育・研究を事業目的とする法人若しくは団体に所属する者
(4) 企業等において研究開発に従事する者
(5) その他管理責任者が適当と認める者
注意事項等
予約可能範囲は 2 週間先までで、その範囲内で各人 1 枠のみ予約可能。
利用規定（料金規定）
お問い合わせ先
材料工学専攻 教育研究支援室 技術職員 鹿住健司
075-753-5474
kazumi.kenji.6r*kyoto-u.ac.jp
「*」を「@」に変更のうえご送信ください。