走査型透過電子顕微鏡 JEM2100F
型番
JEM-2100F
メーカー
日本電子㈱
仕様
加速電圧 200 kV、EDX 付属
設置場所
桂地区A2棟 1階 115室
導入年度
2014年度
概要
本装置は，高輝度で高い干渉性・安定度の電子線が得られるフィールドエミッション電子銃を搭載し，ナノスケールオーダーの像観察や分析が可能です。観察モードには TEM と STEM の 2 種類があり，STEM モードでは，付属しているエネルギー分散型 X 線分析装置(EDX)を用いた EDX マッピングにより，観察領域の組成分析を行うことができます。
設置部局・専攻
工学研究科化学工学専攻
利用対象者
(1) 京都大学大学院工学研究科（以下「研究科」という。）の教職員又は学生のうち、専攻に所属するもの
(2) 研究科の教職員又は学生のうち、専攻以外に所属するもの
(3) 京都大学（以下「本学」という。）の教職員又は学生のうち、研究科以外に所属するもの
(4) 国、地方公共団体、国立大学法人若しくは大学共同利用機関法人、独立行政法人又は教育・研究を事業目的とする法人若しくは団体に所属する者
(5) 企業等において研究開発に従事する者
(6) その他管理責任者が適当と認める者
注意事項等
測定前に使用者講習の受講が必要。ただし，講習会は不定期の開催で，ご予約いただいてもすぐに利用できるわけではありませんので，ご了承ください。また，有機物が多く含まれたサンプルの測定はお控えください。
利用規定（料金規定）
お問い合わせ先
化学工学専攻界面制御工学研究室 准教授 渡邉 哲
075-383-2682
nabe*cheme.kyoto-u.ac.jp
「*」を「@」に変更のうえご送信ください。