集束イオンビーム・走査型電子顕微鏡加工観察装置
型番
JIB-4600F,JED-2300
メーカー
日本電子㈱
仕様
Ga イオンビーム、二次電子像分解能 1.2 nm(加速電圧 30 kV)
設置場所
桂地区A2棟 地下1階 化学系コアラボ
導入年度
2023年度
概要
FIB による高速断面加工後の高分解能 SEM 観察、EDS（エネルギー分散型 X 線分析装置）による元素マッピングが可能（オプション：試料ピックアップシステム）。
設置部局・専攻
工学研究科材料化学専攻
利用対象者
(1) 京都大学大学院工学研究科（以下「研究科」という。）の教職員又は学生のうち、管理専攻に所属するもの
(2) 研究科の教職員又は学生のうち、管理専攻以外に所属するもの
(3) 京都大学（以下「本学」という。）の教職員又は学生のうち、研究科以外に所属するもの
(4) 国、地方公共団体、国立大学法人若しくは大学共同利用機関法人、独立行政法人又は教育・研究を事業目的とする法人若しくは団体に所属する者
(5) 企業等において研究開発に従事する者
(6) その他管理責任者が適当と認める者
注意事項等
利用申請前に利用の概略を下記連絡先に必ずお知らせいただき承認を得て下さい。
利用規定（料金規定）
お問い合わせ先
材料化学専攻 無機構造化学分野 助教 清水雅弘
075-383-2463
shimizu.masahiro.3m*kyoto-u.ac.jp
http://func.mc.kyoto-u.ac.jp/
利用申請前に利用の概略をこちら宛に必ずお知らせいただき承認を得て下さい。
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