極低温高分解能透過電子顕微鏡(JEM-2100F(G5))
日本電子(株)JEOL
# Transmission microscope
# Cryogenic temperature
# Electron diffraction pattern
# Transmission electron microscope
# 透過電子顕微鏡
# 電子回析パターン
# 極低温
# 透過顕微鏡
- 分解能 0.2 nm
- 加速電圧 200 kV
- ヘリウムステージ ヘリウム保持時間:4時間
- 電子銃 ZrO/W(100)FEG
- CCD Camera 2048x2048 pixel
- 特徴 試料温度を液体ヘリウム温度に保って観察が可能です。クライオトランスファー機構を備え、試料を急速冷凍後、外気にさらさずに導入可能です。CCD カメラを用いた撮影です。
設置場所
33
極低温超高分解能電子顕微鏡室9-2室
ご利用案内
京都大学内の方
技術代行
技術補助
機器利用
利用結果を公開することが原則
その他研究機関の方
技術代行
技術補助
機器利用
利用結果を公開することが原則
企業など
技術代行
技術補助
機器利用
利用結果を公開することが原則
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技術代行
- 利用者はサンプル等を提出します。測定は技術職員が実施します。
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技術補助
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利用者が機器操作を行いますが、補助員が機器利用に付き添います。
(補助員及び利用時間に応じて利用料金が発生します。) -
機器利用
- 利用者が機器操作を行います。測定するサンプル数に応じて利用料金が発生します。
ご利用の申し込み
お問い合わせ
化学研究所 付属先端ビームナノ科学センター 複合ナノ解析化学(担当:小川)
- TEL
- 0774-38-3052
- arim*eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp
「*」を「@」に変更のうえご送信ください。