極低温高分解能透過電子顕微鏡(JEM-2100F(G5))
型番
JEM-2100F(G5)
メーカー
日本電子(株)JEOL
仕様
加速電圧 200 kV, 60 kV モノクロメータ ダブルウィーンフィルター 球面収差補正装置 CEOS社製 エネルギーフィルター Gatan966 QuantumERS EDX装置 JED-2300T SDD100GV (JEOL製)
設置場所
化学研究所 極低温超高分解能電子顕微鏡室9-2室
導入年度
2009年度
概要
日本電子（JEOL）が開発した高分解能・高感度の極低温透過電子顕微鏡（Cryo-TEM）**です。
200kVフィールドエミッション電子銃（FEG）を搭載し、0.19nmの高分解能を実現。特に生体高分子、極低温試料、ナノ材料の観察に適しています。
クライオトランスファー機構や液体窒素・液体ヘリウムステージの搭載が可能で、凍結試料を外気に触れさせることなく極低温環境で観察が行えます。さらに、最新の高感度CCD・CMOSカメラによるデジタル撮像や、**EELS（電子エネルギー損失分光）**による元素分析も可能。バランスの取れた多機能モデルです。
設置部局・専攻
宇治地区 化学研究所 極低温超高分解能電子顕微鏡室９－２室
利用対象者
京都大学内の方・他大学研究機関・企業（利用結果を公開することが原則）
注意事項等
マテリアル先端リサーチインフラ事業
お問い合わせは、下記のURLに記載されている連絡先よりお願いいたします。
（計測・分析）
https://tem.nanoplat.cpier.kyoto-u.ac.jp/
利用規定（料金規定）
マテリアル先端リサーチインフラ事業
（計測・分析）
https://tem.nanoplat.cpier.kyoto-u.ac.jp/
お問い合わせ先
化学研究所 付属先端ビームナノ科学センター
複合ナノ解析化学（担当：小川）
TEL0774-38-3052
MAIL：arim*eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp
「*」を「@」に変更のうえご送信ください。