JPEN

極低温高分解能透過電子顕微鏡(JEM-2100F(G5))

日本電子(株)JEOL
  • 分解能 0.2 nm
  • 加速電圧 200 kV
  • ヘリウムステージ ヘリウム保持時間:4時間
  • 電子銃 ZrO/W(100)FEG
  • CCD Camera 2048x2048 pixel
  • 特徴 試料温度を液体ヘリウム温度に保って観察が可能です。クライオトランスファー機構を備え、試料を急速冷凍後、外気にさらさずに導入可能です。CCD カメラを用いた撮影です。
設置場所
33 極低温超高分解能電子顕微鏡室9-2室
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ご利用案内

京都大学内の方
技術代行
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利用結果を公開することが原則

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企業など
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利用者はサンプル等を提出します。測定は技術職員が実施します。
技術補助
利用者が機器操作を行いますが、補助員が機器利用に付き添います。
(補助員及び利用時間に応じて利用料金が発生します。)
機器利用
利用者が機器操作を行います。測定するサンプル数に応じて利用料金が発生します。
ご利用の申し込み
マテリアル先端リサーチインフラ事業
(計測・分析)
https://tem.nanoplat.cpier.kyoto-u.ac.jp/

お問い合わせ
化学研究所 付属先端ビームナノ科学センター 複合ナノ解析化学(担当:小川)
TEL
0774-38-3052
MAIL
arim*eels.kuicr.kyoto-u.ac.jp

「*」を「@」に変更のうえご送信ください。

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