極低加速電圧電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM(ULTRA55))
エスアイアイ・ナノテクノロジー(株) → 現(株)日立ハイテクサイエンス
# crystal orientation analysis
# high magnification
# Electron microscope
# 電子顕微鏡
# FE-SEM
# 高倍率
# 結晶方位解析
- FE-SEM観察では走査型電子顕微鏡(SEM)より高倍率での観察が可能で、表面の凹凸状態や、組成の分布状態、結晶粒子の状態等の観察、さらにEBSDによる結晶方位解析も実施可能です。
- またFE-SEMに付属するエネルギー分散型X線分析装置(EDX)にて、元素分析を行うことも可能です。
設置場所
57
北2号館(一部は北1号館DuET実験棟)
ご利用案内
京都大学内の方
時間利用
9-17時のみ受付
利用料 3,000円/時間
その他研究機関の方
時間利用
9-17時のみ受付
利用料 4,000円/時間
企業など
共同研究
-
時間利用
- 利用者が機器操作を行います。利用時間に応じて利用料金が発生します。
-
共同研究
-
利用者は機器管理者と共同研究を行う必要があります。
(公募申し込み前に事前相談可能)
ご利用の申し込み
京都大学内利用者:担当者へご連絡ください。
その他の利用者:共同利用・共同研究拠点ゼロエミッションエネルギーまでご連絡ください。(有償利用と共同研究契約による利用があります)
※申し込み方法の詳細は本機器HPでご確認ください。
http://www.iae.kyoto-u.ac.jp/zero_emission/
その他の利用者:共同利用・共同研究拠点ゼロエミッションエネルギーまでご連絡ください。(有償利用と共同研究契約による利用があります)
※申し込み方法の詳細は本機器HPでご確認ください。
http://www.iae.kyoto-u.ac.jp/zero_emission/
お問い合わせ
エネルギー理工学研究所 附属エネルギー複合機構研究センター(担当者:大村)
- TEL
- 0774-38-3584
- muster-office*iae.kyoto-u.ac.jp
「*」を「@」に変更のうえご送信ください。