各研究所から調べる

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電界放出型透過電子顕微鏡(FE-TEM(JEM-2200FS)

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極低加速電圧電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM（ULTRA55）)

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集束イオンビーム加工観察装置（FIB（FB-2200））

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電界放出型電子プローブアナライザー(FE-EPMA(JXA-8500FK))

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試料水平型強力Ｘ線回折装置 RINT-TTR III

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マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置（GDS） GD-Profiler2

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FIB後処理用イオンミリング装置 ナノミル Model1040

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核磁気共鳴装置（NMR 600MHz（極低温高感度プローブ））